光學輪廓測量儀是目前三維形貌測量領域高精度的檢測儀器之一。在同等放大倍率下,測量精度和重復性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。在一些納米或者亞納米級別的超高精度加工領域,其它儀器達不到檢測的精度要求。中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀器的重建算法自動濾除樣品表面噪點,在硬件系統的配合下,分辨率可達0.1nm。
優點
一是非接觸高精密測量,不會劃傷甚至破壞工件;
二是測量速度快,不必像探頭逐點進行測量;
三是不必作探頭半徑補正,光點位置就是工件表面測量的位置;
四是對高深寬比的溝槽結構,可以快速而***的得到理想的測量結果。
技術參數
產品型號:SuperView W1系列
產品名稱:光學3D表面輪廓儀
影像系統:1024×1024
光學ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺:尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動、手動同時具備,均為光柵閉環反饋
Z軸行程:100mm,電動
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可測樣品反射率:0.05%-100
水平調整:±5°手動
粗糙度RMS重復性:0.005nm
臺階高測量:準確度0.3%,重復性0.08% 1σ
主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快
生產企業:深圳市中圖儀器股份有限公司
注釋:更多詳細產品信息,請聯系我們獲取
SuperViewW1白光干涉儀器由照明光源系統,光學成像系統,垂直掃描系統以及數據處理系統構成。雙通道氣浮隔振系統的設計,既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣,在無外接氣源的條件下也可穩定工作,可以有效隔絕地面傳導的振動,同時內部隔振系統能夠有效隔絕聲波振動,確保儀器在車間也能正常工作。
SuperViewW1白光干涉儀器可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,XY載物臺標準行程為140*110mm,局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數值可達0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。